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表面粗糙度及輪廓測量儀

SJ5730-100高精度粗糙度輪廓測量儀

發布時間:2023-01-30人氣:74

一、    產品功能

1.      一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數,顯示RaPt等參數;

2.      表面粗糙度評定: R參數、P參數、W參數等多參數評定;

3.      表面輪廓評定:評定任何點/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量,并可對輪廓進行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和測量的操作簡潔高效;

4.      尺寸標注:半徑、兩圓中心距離、X/Z方向尺寸、斜邊尺寸、兩線夾角、圓弧最高或最低點、直線與直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標注線大小修改、線偏移、在數據圖形某點上加標記、局部輪廓放大和調平等

5.      形狀誤差測量:非球面形狀誤差測量、直線形狀誤差測量、弧面形狀誤差測量;

6.      測量記錄采用集中式數據庫管理,可按被測件類型、生產單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄;

7.      輸出多種格式報表(.doc.docx.xlsx.pdf),并支持完全的自定義報表,定制測量記錄報表,可批量打印記錄表,具有數據備份和還原數據庫功能;

8.      具有強大的CNC功能,能進行高效率的CNC結果分析功能;

9.      具備自動找拐點功能,能按照程序設置進行X軸自動找拐點;

10.   成熟簡單的標定,儀器自帶高精度組合標定臺,可對儀器的精度和測針磨損進行精確補償;

11.   可進行DXFCAD)、PDF格式圖紙導入,進行理論圖紙與測量結果進行比對分析;特別是不規則的輪廓形狀時,可以提供直觀圖形對比;

12.   可對多次測量的輪廓曲線匹配后進行分析測量重復性

二、    性能特點

1、  一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數

超高精度衍射光學測量系統,具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度測量范圍,分辨率達到1nm或更高。

2、  高精度、高穩定性、高重復性:完全滿足被測件測量精度要求

系統穩健的設計,保證測量的高重復性。下表為測量軸承滾道的粗糙度RaPt

重復性

參數      次數

1

2

3

4

5

Ra / μm

0.059

0.060

0.057

0.059

0.059

Pt / μm

2.684

2.720

2.650

2.550

2.702

3、  智能化管理與先進軟件分析系統

儀器操作界面友好,操作者易掌握儀器基本操作,使用十分簡便

1)     10多年積累的實用檢測軟件設計經驗,向客戶提供簡潔、實用、快速的操作體驗;

2)     智能化分析及記錄,同批次可自動測量和分析,大幅度減少人員的操作要求及降低人員的勞動強度;

3)     測量范圍廣,可滿足絕大多數類型的工件粗糙度輪廓測量要求;

4)     可自動和手動選取被測段進行評定,可依據客戶要求進行軟件功能的定制;

5)     純中文操作軟件系統,更好的為國內用戶服務;

6)     可打印各種格式的檢定報告,自動顯示、打印、保存、查詢測量記錄,打印格式正規、美觀;檢定數據可存檔,或集中打印,不占用檢定操作時間;

7)     本儀器采用計算機大容量數據庫儲存,可自動記錄保存所有檢定結果。

4、  智能保護系統

儀器在各個方向都有進行硬件及軟件保護,能有效的保護儀器主機及測針,降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。

5、  靈活手動控制:

儀器配置了特殊分離式操作桿,操作桿在儀器操作移動時,可放置在任何位置控制操作,在測量工件前對測針進行粗定位;在脫離電腦的情況下,操作桿具備左右/上下移動測針、急停、測桿上下角度擺動及速度分多級調節功能。

6、  成熟的標定校準技術

儀器配置特殊的高精度標定臺,通過簡單的標定操作,能對儀器的參數進行誤差補償,對測針針尖磨損進行修正補償,使其滿足高精度輪廓測量

三、技術參數

型號

SJ5730-100

輪廓參數

測量范圍

X

0~100mm

Z

0~300mm

Z1

±7mm(標準配置L85mm測桿)

±8mmL95mm測桿可選)

±10mmL110mm測桿可選)

分辨率

X/Z1

最高0.1nm

測量

精度

角度精度

1’

Z1軸輪廓精度

±(0.5+0.06Hμm

標準圓弧Pt精度

 Pt≤±0.3μm

標準球測量誤差

±(1+R/20μm

移動速度

X

0~20mm/s

Z

0~20mm/s

掃描速度(掃描軸)

0.055mm/s

直線度(掃描軸)

0.2μm/50mm,≤0.3μm/100mm

測量力

3~4mN

爬坡能力

上坡77o,下坡88o

粗糙度參數

適用Ra測量范圍

Ra0.05μm~Ra12.5μm

示值誤差

Ra ±(4nm+2.0%A)A:測量Ra標稱值)

重復性(1δ)

1nm0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標準臺階塊)

殘值噪聲

3nm

測量參數

R粗糙度:

Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,   Rmr

核心粗糙度:   Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo

P輪廓參數:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,   Pdc, PPc,Pmr,

W波度輪廓參數:

Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr

Motif參數:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL

濾波器

高斯濾波器、2RC濾波器,相位修正濾波器

濾波長度

0.080.250.82.58.025mm可選

濾波長度

λc×345678可選

儀器尺寸(長××高)

600×350×850mm

儀器總重量

95Kg

 


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