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1. 一次測量可同時評定粗糙度及輪廓參數,顯示Ra和Pt等參數;
2. 表面粗糙度評定: R參數、P參數、W參數等多參數評定;
3. 表面輪廓評定:評定任何點/線間距、兩線夾角、圓弧半徑、直徑等幾何量尺寸參量,并可對輪廓進行直線度、圓度、輪廓度、平行度、位置度、垂直度等分析,重新分析和測量的操作簡潔高效;
4. 尺寸標注:半徑、兩圓中心距離、X/Z方向尺寸、斜邊尺寸、兩線夾角、圓弧最高或最低點、直線與直線相交、直線與圓弧相交、圓弧與圓弧相交、尺寸標注線大小修改、線偏移、在數據圖形某點上加標記、局部輪廓放大和調平等
5. 形狀誤差測量:非球面形狀誤差測量、直線形狀誤差測量、弧面形狀誤差測量;
6. 測量記錄采用集中式數據庫管理,可按被測件類型、生產單位、出廠編號、檢測員、送檢單位、設備編號、檢定日期和有效日期等查詢和管理測量記錄;
7. 輸出多種格式報表(.doc,.docx,.xlsx,.pdf),并支持完全的自定義報表,定制測量記錄報表,可批量打印記錄表,具有數據備份和還原數據庫功能;
8. 具有強大的CNC功能,能進行高效率的CNC結果分析功能;
9. 具備自動找拐點功能,能按照程序設置進行X軸自動找拐點;
10. 成熟簡單的標定,儀器自帶高精度組合標定臺,可對儀器的精度和測針磨損進行精確補償;
11. 可進行DXF(CAD)、PDF格式圖紙導入,進行理論圖紙與測量結果進行比對分析;特別是不規則的輪廓形狀時,可以提供直觀圖形對比;
12. 可對多次測量的輪廓曲線匹配后進行分析測量重復性
1、 一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數
超高精度衍射光學測量系統,具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度測量范圍,分辨率達到1nm或更高。
2、 高精度、高穩定性、高重復性:完全滿足被測件測量精度要求
系統穩健的設計,保證測量的高重復性。下表為測量軸承滾道的粗糙度Ra和Pt。
重復性 | |||||
參數 次數 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 |
Ra / μm | 0.059 | 0.060 | 0.057 | 0.059 | 0.059 |
Pt / μm | 2.684 | 2.720 | 2.650 | 2.550 | 2.702 |
3、 智能化管理與先進軟件分析系統
儀器操作界面友好,操作者易掌握儀器基本操作,使用十分簡便。
1) 10多年積累的實用檢測軟件設計經驗,向客戶提供簡潔、實用、快速的操作體驗;
2) 智能化分析及記錄,同批次可自動測量和分析,大幅度減少人員的操作要求及降低人員的勞動強度;
3) 測量范圍廣,可滿足絕大多數類型的工件粗糙度輪廓測量要求;
4) 可自動和手動選取被測段進行評定,可依據客戶要求進行軟件功能的定制;
5) 純中文操作軟件系統,更好的為國內用戶服務;
6) 可打印各種格式的檢定報告,自動顯示、打印、保存、查詢測量記錄,打印格式正規、美觀;檢定數據可存檔,或集中打印,不占用檢定操作時間;
7) 本儀器采用計算機大容量數據庫儲存,可自動記錄保存所有檢定結果。
4、 智能保護系統
儀器在各個方向都有進行硬件及軟件保護,能有效的保護儀器主機及測針,降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。
5、 靈活手動控制:
儀器配置了特殊分離式操作桿,操作桿在儀器操作移動時,可放置在任何位置控制操作,在測量工件前對測針進行粗定位;在脫離電腦的情況下,操作桿具備左右/上下移動測針、急停、測桿上下角度擺動及速度分多級調節功能。
6、 成熟的標定校準技術
儀器配置特殊的高精度標定臺,通過簡單的標定操作,能對儀器的參數進行誤差補償,對測針針尖磨損進行修正補償,使其滿足高精度輪廓測量。
型號 | SJ5730-100 | ||
輪廓參數 | 測量范圍 | X軸 | 0~100mm |
Z軸 | 0~300mm | ||
Z1軸 | ±7mm(標準配置L85mm測桿) (±8mm:L95mm測桿可選) (±10mm:L110mm測桿可選) | ||
分辨率 | X軸/Z1軸 | 最高0.1nm | |
測量 精度 | 角度精度 | ≤1’ | |
Z1軸輪廓精度 | ≤±(0.5+0.06H)μm | ||
標準圓弧Pt精度 | Pt≤±0.3μm | ||
標準球測量誤差 | ≤±(1+R/20)μm | ||
移動速度 | X軸 | 0~20mm/s | |
Z軸 | 0~20mm/s | ||
掃描速度(掃描軸) | 0.05~5mm/s | ||
直線度(掃描軸) | ≤0.2μm/50mm,≤0.3μm/100mm | ||
測量力 | 約3~4mN | ||
爬坡能力 | 上坡77o,下坡88o | ||
粗糙度參數 | 適用Ra測量范圍 | Ra0.05μm~Ra12.5μm | |
示值誤差 | Ra: ≤±(4nm+2.0%A)(A:測量Ra標稱值) | ||
重復性(1δ) | 1δ≤1nm(0.1-0.2μm方波粗糙度樣塊、標準臺階塊) | ||
殘值噪聲 | ≤3nm | ||
測量參數 | R粗糙度: Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc, Rmr 核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo P輪廓參數:Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, W波度輪廓參數: Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr Motif參數:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL | ||
濾波器 | 高斯濾波器、2RC濾波器,相位修正濾波器 | ||
濾波長度 | 0.08、0.25、0.8、2.5、8.0、25mm可選 | ||
濾波長度 | λc×3、4、5、6、7、8可選 | ||
儀器尺寸(長×寬×高) | 600×350×850(mm) | ||
儀器總重量 | 約95Kg |
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